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23. Februar 2016
Mikroskopie und Messtechnik

Die ständig wachsenden Anforderungen an die Sicherheit, Funktions- und Leistungsfähigkeit sowie Nachhaltigkeit neuer Produkte erfordern zunehmend den Einsatz hochpräziser Fertigungsmesstechnik als Instrument der Qualitätssicherung. Trends wie die Miniaturisierung von Bauteilen oder die Zunahme der Bauteilkomplexität durch Integralbauweise verstärken den Bedarf an innovativen Prüfmethoden. Das Anwendungszentrum Mikroproduktionstechnik AMP am Fraunhofer IPK verfügt über langjährige Erfahrungen in der Anwendung, Entwicklung und Maschinenintegration von Mikromesstechnik und lädt Sie gemeinsam mit Carl Zeiss Industrielle Messtechnik zum Anwendertag »Mikroskopie und Messtechnik« nach Berlin ein.

Wir geben Ihnen einen Überblick über das breite Spektrum der optischen Messtechnik, industriellen Computertomographie und Materialmikroskopie. Expertenvorträge sowie zahlreiche praxisorientierte Vorführungen bieten Ihnen die Möglichkeit, sich umfassend über neue Technologien und Zukunftsperspektiven zu informieren. Darüber hinaus bieten wir gemeinsam mit ZEISS Live-Messungen an. So können Sie vor Ort mit eigenen Musterteilen die Möglichkeiten und Grenzen einer Technologie gemeinsam mit den Experten von ZEISS und Fraunhofer IPK ausloten. Dabei möchten wir mit Ihnen gerne diese Themen diskutieren und Mittel und Wege aufzeigen, wie diese Messaufgaben und Dokumentationen praktisch umgesetzt werden können.

 

Termin 23. Februar 2016

Veranstaltungsort Anwendungszentrum Mikroproduktionstechnik – AMP
Pascalstraße 13-14
10587 Berlin

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Eine Veranstaltung für ExpertInnen und InteressentInnen aus Industrie, Forschung und Wissenschaft

Ansprechpartner Dr.-Ing. Dirk Oberschmidt
+49 30 39006-159
dirk.oberschmidt(at)ipk.fraunhofer.de

In Kooperation mit: